基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：渦流測厚儀|氧化膜測厚儀

產(chǎn)品型號：TT230

產(chǎn)品簡介：

TT230 渦流測厚儀|氧化膜測厚儀
TT230是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量；可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

產(chǎn)品特性Product characteristics

TT230 渦流測厚儀|氧化膜測厚儀

TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀的詳細(xì)介紹

涂層測厚儀概述

TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量；可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

• GB/T 4957-1985 渦流方法
• JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
• JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀

   涂層測厚儀功能特點(diǎn)

• 采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等
  基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
• 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
• 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
• 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
• 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
• 設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
• 具有米、英制轉(zhuǎn)換功能
• 具有打印功能，可打印測量值、統(tǒng)計值
• 具有欠壓指示功能
• 操作過程有蜂鳴聲提示
• 具有錯誤提示功能
• 具有自動關(guān)機(jī)功能

    涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)

• 測頭類型：N
• 測量原理：電渦流
• 測量范圍： 0-1250um | 0-40um（銅上鍍鉻）
• 低限分辨力：1µm（10um以下為0.1um）
• 探頭連接方式：一體化
• 示值誤差：
  1. 一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）：±[3%H+1.5]
  2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
• 測量條件：
  1. zui小曲率半徑（mm）：凸3 | 凹10
  2. 基體zui小面積的直徑（mm）：ф5
  3. zui小臨界厚度（mm）：0.3
• 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
• 統(tǒng)計功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
• 工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
• 測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
• 上下限設(shè)置：無
• 存儲能力：15個測量值
• 打印/連接計算機(jī)：可選配打印機(jī)/能連接電腦
• 關(guān)機(jī)方式：自動
• 電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池
• 外形尺寸：150×55.5×23mm
• 重量：150g

   涂層測厚儀基本配置

• 主機(jī)
• 鋁基體
• 標(biāo)準(zhǔn)片一套|五片
• 充電器
• 使用說明書

   涂層測厚儀可選附件

• TA230打印機(jī)