吉時(shí)利SourceMeter^®（數(shù)字源表）系列是專(zhuān)為那些要求緊密結(jié)合激勵(lì)源和測(cè)量功能，要求精密電壓源并同時(shí)進(jìn)行電流與電壓測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。所有源表均由一個(gè)精密的、低噪聲、高穩(wěn)定的帶回讀功能的直流電源和一個(gè)低噪聲、高重復(fù)性、高輸入阻抗的5½位多功能表組成，形成了緊湊的單通道直流參數(shù)測(cè)試儀。其功能相當(dāng)于電壓源、電流源、電壓表、電流表和電阻表的綜合體。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車(chē)與醫(yī)療行業(yè)的元件與模塊制造商都將發(fā)現(xiàn)，源表儀器對(duì)于各種特征分析與生產(chǎn)過(guò)程測(cè)試都實(shí)用價(jià)值。

2400-C型是一種功率為20W的儀器，能夠提供并測(cè)量從±5μV（源）和±1µV（測(cè)量）到±200V的直流電壓，以及從±10pA到±1A電流。它非常適合于測(cè)試各種器件，包括二極管、電阻、電阻網(wǎng)絡(luò)、有源電路保護(hù)器件，以及便攜式電池供電設(shè)備和元件。它也可以用作系統(tǒng)電源和 I_DDQ 測(cè)試應(yīng)用。這種接觸檢查功能能夠在開(kāi)始一個(gè)自動(dòng)測(cè)試序列之前，在 350µs內(nèi)輕松驗(yàn)證測(cè)試連接情況，從而實(shí)現(xiàn)了zui大的測(cè)試功能。這就消除了由于接觸不良、磨損、玷污、松動(dòng)或連接斷開(kāi)、中繼失效等問(wèn)題導(dǎo)致的測(cè)量錯(cuò)誤和虛假產(chǎn)品失效

* 在350µs之內(nèi)就可以完成接觸檢測(cè)驗(yàn)證與報(bào)告，有利于保持高速生產(chǎn)效率

• * 可以通過(guò)該儀器的前置面板或通過(guò)GPIB遠(yuǎn)程控制接觸檢測(cè)操作
• * 內(nèi)置的“源存儲(chǔ)器”可編程序列發(fā)生器zui多可存儲(chǔ)100個(gè)不同的測(cè)試，以滿(mǎn)足高速生產(chǎn)的需要
• * 高達(dá)75000小時(shí)MTBF的可靠性設(shè)計(jì)，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性
• * 內(nèi)置的比較器簡(jiǎn)化了 pass/fail測(cè)試
• * 數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機(jī)械手
• * 0.012%的精確度，5½的分辨率
• ?器件：
• 離散半導(dǎo)體器件
• 無(wú)源器件
• 暫態(tài)抑制器件
• IC、RFIC、MMIC
• 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測(cè)器
• 電路保護(hù)器件:
• TVS、MOV、熔絲
• 安全氣囊
• 連接器、開(kāi)關(guān)、繼電器
• 測(cè)試：
• 漏流
• 低壓、電阻
• LIV
• IDDQ
• I-V特征分析
• 隔離與軌跡電阻
• 溫度系數(shù)
• 正向電壓、反向擊穿、漏電流
• 直流參數(shù)測(cè)試
• 直流電源
• HIPOT
• 介質(zhì)耐受性